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  • [分享] Seagate希捷硬盘Building Self Test(自校准)

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    tuzi 发表于 2015-1-24 16:56:02 | 显示全部楼层 |阅读模式 打印 上一主题 下一主题
    seagate希捷硬盘Building Self Test(自校准)
    001_orig.png

    002_orig.png

    Self Test 是真正的low level format 具有良好维修效果.
    边做磁讯号效果测试 边做servo pattern 写入
    是工厂标准生产流程也是RMA必跑测试
    像Seagte 是设计专用机台以TTL 连接硬碟通讯

    限于智财权,东欧Hacker 想尽办法去做协定分析.
    找出低阶通讯协定,再自行以软硬体去包装

    使用昂贵 PC3000 UDMA 启动方法:

    先从其他同系列 +同主控晶片组 硬碟备份LDR

    从这开始

    1.进入安全模式   如果是用   非UDMA 内建可切换电源    需要自己手动硬碟断电 通电
    003_orig.png

    2.切换Bandrate 速度为921000 最高

    004_orig.png
    Self Writing 启动方式

    1.选这加载LDR :选Starting LDR
    005_orig.png
    以安全模式加载 LDR 请参考图
    006_orig.png
    如果是用   非UDMA 内建可切换电源    需要自己手动硬碟断电 通电1~2次

    如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop)   CERT 可以另存 module 改掉 后 , 再额外指定
    指令E4E  检查已做好的self Test 流程跟时间 (Exam 4E)
    指令T4E  检验预定做的Self Test流程
      
    1.终端下输入ctrl-z
    把速度改回9600 bps
    再输入 #,,22  (改序号 ) 按下Enter  
    前三码跟磁头有关 不可乱输入 如果磁头没变化就一样 (9QF12345)
    再任意输入PW 五位数(12345  ok)

    2.N2,,22  (2代表从第2步开始做 ,,22 是确定执行)  , (所以 N94,,22   是 从 94 开始)

    3. 再按下 ctrl -t执行
      
    . 可以看到目前流程

    : 可看age
      硬碟AGE 说明 代表目前硬碟状况

    硬盘安装和伺服校正测试
    TEST 01 - 製造临时日志
    TEST 02 - 格式化和测试错误日志
    磁头和电路校正测试
    TEST 03 - 伺服校正信息
    TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
    TEST 05 - 传感器滞后测试
    TEST 06 - 磁头切换测试
    TEST 07 - RUNOUT补偿测试
    TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
    TEST 09 - 磁头低飞显示
    TEST 0A - 磁头稳定性测试
    TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置
    TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
    TEST 0E - 寻找跳过柱面测试(还未实现过)
    TEST 0F - 当前写测试 磁头和电路校正测试
    TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#(最后区域)通过 0 -所有磁头
    TEST 1F - 显示适配性,VCO,和DIODE温度设置
    TEST 2F - 显示FIR适应性设置 伺服性能验证测试
    TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
    TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
    TEST 23 - 开始/停止 (10次)
    TEST 24 - 开始/停止 (2000次)
    TEST 29 - 伺服缺陷扫瞄
    缺陷查找和再分配测试
    TEST 30 - 验证所有磁盘组读取,AT级
    TEST 31 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 0-1无读取级,50写级
    TEST 32 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 2-3无读取级,50写级
    TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位
    TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位
    TEST 3A - 使用1重複读取所有磁头抛光和缺陷测试,重複50次
    TEST 3B - 建立缺陷表;填充受损磁头0,1
    TEST 3C - 建立缺陷表;填充受损磁头2,3
    TEST 3D - 建立缺陷表;填充受损磁头4,5
    TEST 3E - 建立缺陷表;填充受损磁头6,7
    TEST 3F - 回送测试,写通过测试
    错误率性能测试
    TEST 40- 开始/停止(10次)
    TEST 41- 磁道侵入
    TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
    TEST 43- RAM 测试
    TEST 46- 数据编译比率
    TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
    TEST 48- 错误率,写通过
    TEST 49- 写/读/比较(零式样)
    TEST 4A- 补偿系数检测
    TEST 4B- 读
    TEST 4B -所有磁道冷写显示
    TEST 4C- 磁头飞行高度测量
    TEST 4D- 收集自动FA数据
    TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要
    TEST 4F- 失败磁盘测试
    TEST 50- 通过磁盘测试

    AGE 50正常就为正常 再写入APP to HDD 就可

    精彩评论7

    爱老虎幼 发表于 2015-12-21 00:29:25 | 显示全部楼层
    白高兴一场,以为是F3的
    回复 支持 反对

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